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高低温快速温变试验箱
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SSD高温老化测试箱

SSD高温老化测试箱

  • 所属分类:5G半导体芯片测试专用设备
  • 浏览次数:
  • 发布日期:2020-03-20
  • 产品概述
  • 性能特点
  • 技术参数
  • 安全与配置

1. 功能与特点:


l支持SATAI/II/III的测试;

l支持SATA的测试片数定制化,例如100片、150片、200片、400片等等;

l支持研发微小型定制化,例如2片、6片等等;

l支持(室温~+150度)的测试;

l支持自动化温控测试;

l支持全部采用软体进行智能化控制测试;

l支持测试测试软体的定制化;

l支持箱内风速与温度均衡;

l支持PCIE/EMMC/UFS/DRAM/Flash老化的定制化研发;

l支持网络化控制,可以异地控制测试并看测试结果;

l支持APP远程控制测试;


2. 硬体结构


硬件部分主要由如下几部分组成:
高温箱

|  SATA转接板;

|  电源控制部件和信号传送控制电路等;

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